先假设计算均值的目的是估计同一个点的值。那个公式中的sigma，是刻划随机误差的一个量。那么首先要问的是，测量误差的来源中，除了刻度限制外，有无随机误差？如果随机误差为零，别说计算均值，就是测两次都是多余的。可是，如果随机误差相对于刻度不可忽略，那个公式就起作用了，当然作用的大小还会受到刻度的影响。这点Tidan已经有所提及。
http://www.xys.org/forum/db/8/49/129.html回到AGW问题上来，要看JFF的一般性质疑是否成立，测量误差中有无随机成分至少应该了解一下吧？实际数据采集与处理中，随机误差可以忽略不计的场合到底有多少，是不是一般性情况，这个问题应该不难回答吧。那么，究竟是什么使得JFF如此信心满满地忽略随机误差？看看JFF自己是怎么说的:
“一个是随机变量在其均值两边的波动指标，是随机变量对其均值的accuracy问题；一个是随机变量的均值（它不是随机变量！）的精度问题，即均值表示真值的precision问题。两码事。均值的precision无论如何是不会比单独一次测量的precision好的，这个由测量手段决定了的。”
http://www.xys.org/forum/db/8/49/134.html“1）SIGMA是随机变量在其均值附近的波动指标；2）均值的精度跟SIGMA无关，只跟测量手段的精度有关，它不可能好于每次单独测量的精度。两码事。”
http://www.xys.org/forum/db/8/49/141.html也就是说， JFF认为计算得到的均值不是随机变量，从而其精度跟SIGMA无关，这就是其质疑的根据。原来如此！在概念上如此捣浆糊，岂能不露馅？这真是“公式诚可贵，概念价更高”啊。
顺便再说一下，我对AWG问题了解太少，无意站队。以上讨论中，为简化起见，未考虑系统误差，同时假设００８所提公式的适用条件都满足。另外，AWG问题中的均值可能是不同点的均值，此时的均值未必是对某个特定点的估计，但是总可以看作是一个指标，仍然是个统计量。